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      產品詳情
      • 產品名稱:電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家

      • 產品型號:KW-TH-150Z
      • 產品廠商:科文
      • 產品文檔:
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      簡單介紹:
      電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家東莞市科文試驗設備有限公司專業生產銷售的高溫高濕試驗箱性能溫度,性價比高,功能**,KW-TH系列高溫高濕試驗箱可測試的功能包括:高溫、低溫、高低溫循環、高低溫恒溫、濕熱,濕熱交變、濕熱循環、濕熱恒定、高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕等溫濕度功能。
      詳情介紹:
       電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家東莞市科文試驗設備有限公司專業生產銷售的高溫高濕試驗箱性能溫度,性價比高,功能**,KW-TH系列高溫高濕試驗箱可測試的功能包括:高溫、低溫、高低溫循環、高低溫恒溫、濕熱,濕熱交變、濕熱循環、濕熱恒定、高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕等溫濕度功能。

      科文牌電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱用于測試電子、電器、電機、電腦、電源、電線、電纜、電路板、線路板、電容器、電阻、電感、半導體、LED、LCD、PCB、FPC、IC、光伏組件、太陽能組件、光電、光纖、通訊設備、數碼產品、玩具、運動器材、印刷、照明、塑膠、塑料、橡膠、膠粘、粘合劑、化工、涂料、建材、五金、陶瓷、**、航空、航天、汽車、船舶等行業的產品材料及零部件在高溫、低溫、濕度、高低溫循環、高低溫恒定、濕熱交變、濕熱恒定、高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕等溫濕度環境下使用時的適應能力。


      電子高溫高濕試驗箱濕度控制能力范圍表:


      高溫高濕試驗箱選型表:


      科文高溫高濕試驗箱控制系統優勢及操作運行畫面:
      科文高溫高濕試驗箱采用由科文公司自主研發的
      KW-890可程式微電腦溫濕度控制器:7英寸中英文彩觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制,USB曲線記錄,數據儲存裝置.

      優勢一:大屏幕逼真彩色畫面TFT LCD(LED 背光) 7英寸TFT真彩VGA(800x480)

      優勢二:人機對話式觸摸屏輸入系統,操作簡單易學,功能強大,并可于LCD畫面上了解程序設定之曲線及監測過程;

      優勢三:PV曲線/組曲線實時表示溫、濕度PV,SV曲線,表示歷史儲存的曲線,表示組曲線及進行狀態;  

      優勢四:可設定程序120組,1200段,循環次數可達999次,每段時間*大設定99小時59分;  

      優勢五:提供USB通訊接口可備份/歷史曲線/歷史數據,使用便捷;還可選配RS485接口,RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監視。   

      優勢六:具有程序修正、**、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能;

      優勢七:畫面保護器功能,程式運行時可以設定操作條件,一個段次的運行時間(530小時59分),每段可以設定待機開關,定值*大999999小時;  

      優勢八:具有多種報警功能,故障發生同時,可通過熒幕故障顯示,消除故障; 

      優勢九:把記錄錯誤履歷,提供使用者查閱,全部畫面提供英語、中國語;  

      優勢十:BMP文件表示通過USB下載歷史曲線為BMP圖片格式文件。

      科文KW-890溫濕度控制器運行畫面:



      電子高溫高濕試驗箱采用原裝進口制冷機組:


      符合標準:

      國際電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱    
      國際電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷    
      國際電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱    
      中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫    
      中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫    
      中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法    
      中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗    
      中國國家標準,GB/T2423.4-93方法    
      中國國家**環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗

      美國**標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度    
      美國**標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫    
      美國**標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫    
      美國**標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗    
      美國**標準,MIL-STD810D方法502.2    
      美國**標準,MIL-STD810方法507.2程序3        
      美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗    
      美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗    
      美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗    

      日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態    
      日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱    
      日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫


       電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家專業為電子行業研發設計各類可靠測試設備包括,高溫高濕試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、紫外線老化試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、快速溫變試驗箱、高溫老化試驗箱、淋雨試驗箱、沙塵試驗箱、氙燈耐候試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、步入式高低溫試驗室、拉力試驗機、跌落試驗機、振動試驗機等試驗設備。


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